QuickPRO-OCT 结合了单点可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器和高速纳米编码 X/Y/Z 运动控制平台,可在单次测量中捕获透明薄膜样品中每一层的平面结构,测量频率高达 66 kHz。QuickPRO-OCT 的穿透深度(高达 100 µm)和轴向分辨率(5 nm)针对半导体、生命科学等行业中多层透明薄膜、平面基底和功能层的测量进行了优化。
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产地 |
美国 |
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系统 |
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尺寸(长x 宽x 高) |
535mm x 380mm x 510mm |
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重量 |
约60kg |
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系统控制器 |
运动和传感器控制;高速数据链路 |
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电源要求 |
110-220V 交流电,50-60 Hz,2 A(220V),5 A(110V) |
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运动 |
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测量区域(XYZ) |
100mm x 100mm x 50mm |
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位置精度 |
< 1μm |
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驱动类型 |
带磁力平衡的线性伺服电机 |
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平台速度 |
100mm/s |
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扫描类型/路径 |
螺旋、光栅、用户自定义 |
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负载能力 |
5kg |
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传感器 |
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技术 |
光谱域光学相干断层扫描(非接触式厚度测量) |
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应用 |
轮廓和厚度测量 |
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采样率 |
高达 66kHz |
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可用探头 |
V-1、N-2、N-3 |
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横向分辨率 |
6.5μm、3μm、3μm |
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工作距离 |
10.6mm、40mm、40mm |
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轴向分辨率 |
1nm、1nm、4nm |
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斜率max. |
±10°、±5°、±5° |
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厚度范围(光程差) |
2μm - 180μm、16μm - 2600μm、114μm -、12.6mm |
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测量 |
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轴向测量精度 |
≤ 0.001mm |
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厚度精度 |
< 0.001mm,取决于折射率 |
QuickPRO-OCT 的理想应用是测量硅、GaAs 或玻璃晶圆上的图案化光刻胶(或类似的透明涂层),用于后端半导体、先进封装、显示器、LED、VCSEL 和 MEMS,作为显影后和蚀刻前的质量控制。