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Opto Alignment4D表面和厚膜轮廓仪QuickPRO-OCT

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产品介绍

QuickPRO-OCT 结合了单点可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器和高速纳米编码 X/Y/Z 运动控制平台,可在单次测量中捕获透明薄膜样品中每一层的平面结构,测量频率高达 66 kHz。QuickPRO-OCT 的穿透深度(高达 100 µm)和轴向分辨率(5 nm)针对半导体、生命科学等行业中多层透明薄膜、平面基底和功能层的测量进行了优化。

性能特点
  • 紧凑型台式设备,配备环境防护罩。
  • 单点、非接触式、可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器,测量速率高达 66 kHz。
  • 针对高反射材料上多层透明薄膜的形貌和厚度测量进行了优化。
  • 采用纳米级编码的 X/Y/Z 运动,配备磁力线性电机和交叉滚子轴承,可实现 100mm (X)、100mm (Y)、50mm (Z) 的快速光栅或螺旋扫描。
  • 可选配真空吸盘,用于样品和托盘的固定。
  • 用户友好的 CalcuSurf-4D 配方生成、数据采集、表面形貌和多层薄膜分析软件,可优化测量采样密度,从而在高通量下实现覆盖率。
技术参数

产地

美国

系统

 

尺寸(长x 宽x 高)

535mm x 380mm x 510mm

重量

约60kg

系统控制器

运动和传感器控制;高速数据链路

电源要求

110-220V 交流电,50-60 Hz,2 A(220V),5 A(110V)

运动

 

测量区域(XYZ)

100mm x 100mm x 50mm

位置精度

< 1μm

驱动类型

带磁力平衡的线性伺服电机

平台速度

100mm/s

扫描类型/路径

螺旋、光栅、用户自定义

负载能力

5kg

传感器

 

技术

光谱域光学相干断层扫描(非接触式厚度测量)

应用

轮廓和厚度测量

采样率

高达 66kHz

可用探头

V-1、N-2、N-3

横向分辨率

6.5μm、3μm、3μm

工作距离

10.6mm、40mm、40mm

轴向分辨率

1nm、1nm、4nm

斜率max.

±10°、±5°、±5°

厚度范围(光程差)

2μm - 180μm、16μm - 2600μm、114μm -、12.6mm

测量

 

轴向测量精度

≤ 0.001mm

厚度精度

< 0.001mm,取决于折射率

 

 

产品应用

QuickPRO-OCT 的理想应用是测量硅、GaAs 或玻璃晶圆上的图案化光刻胶(或类似的透明涂层),用于后端半导体、先进封装、显示器、LED、VCSEL 和 MEMS,作为显影后和蚀刻前的质量控制。

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