Lenscan系统可以直接测量组件中所有光学元件(透镜、立方体透镜、平面透镜等)沿光轴的位置和中心厚度。在光学设计和制造过程的各个环节,该系统都能显著节省时间并进行质量评估。
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产地 |
美国 |
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版本 |
电子单元/分离式延迟线 |
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内部计量 |
线性刻度 |
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测量范围 |
600 mm |
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测量时间或频率 |
30 s |
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Abs.精度 |
± 1 μm |
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测量通道 |
max. 4 |
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工作距离 |
600 mm |
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可测量厚度min. |
空气中粒径小于 30 μm(可选小于 10 μm) |
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光源 |
SLDλ=1.3 μm |