产品中心
Essent optics超光谱光度计PHOTON RT 0420 Ultra
- 品牌名称：Essent optics
- 规格型号：PHOTON RT 0420 Ultra
- 产品资料：Essent optics超光谱光度计PHOTON RT 0420 Ultra.pdf
PHOTON RT 0420 Ultra拥有的 0.06 nm 光谱分辨率，为滤光片的性能鉴定提供了高的灵活性。其先进的功能支持低至 OD8 的宽带测量，并能够表征低至 0.02% 的斜率陡度。PHOTON RT 0420 Ultra 专为满足高纯度镀膜的严苛要求而设计，波长范围为 340nm 至 2000nm，适用于各种先进应用领域的镀膜，包括激光雷达、荧光显微镜、激光安全、电信、太空探索和安全等领域。
- 具有JI陡过渡斜率的纳米带通滤波器的特性分析
- 高光密度涂层的特性分析
- 超窄带通滤波器的测量
- 高光谱分辨率
|
产地 |
立陶宛 |
|
光学配置 |
|
|
单色仪光学方案 |
双加性切尔尼-特纳式 |
|
光学元件 |
银保护镜 |
|
参考通道 |
有 |
|
波长采样间隔 |
0.01 至 100 nm |
|
被测样品上的光斑尺寸 |
4 x 3 mm |
|
光度函数 |
%T、OD |
|
有效波长范围 |
340 - 2000 nm |
|
JI限光谱分辨率 |
|
|
400-990 nm |
0.06 |
|
990-2000 nm |
0.13 |
|
波长精度 |
|
|
400-990 nm |
+/- 0.02 |
|
990-2000 nm |
+/- 0.04 |
|
波长重复精度 |
|
|
400-990 nm |
+/- 0.01 |
|
990-2000 nm |
+/- 0.02 |
|
JI限光密度，-log10(T) |
|
|
340-420 nm |
6 |
|
420-925 nm |
8 |
|
925-2000 nm |
7 |
|
532 nm 处的杂散光水平 |
< 0.000001 %(1×10-6) |
|
光束发散角 |
± 0.2° |
|
基线稳定性 |
< 0.2%/小时（预热时间一小时） |
|
光源 |
高能等离子体光源，HgAr波长校准灯。所有光源均已内置并预先配置。 |
|
样品室 |
标准样品台（包含） 测量尺寸大于 8 x 10 毫米的平面样品的透射率 |
|
样品尺寸min. |
6 x 4 毫米 |
|
样品尺寸max. |
标准样品台盖上盖子时，可达 55 (90) 毫米 x 120 毫米 |
|
|
可达 152.4 毫米（圆形）带封闭式盖子，可选配电动样品台 |
|
接口、尺寸和重量 |
|
|
接口 |
USB 2.0，基于 Windows 系统，英文界面 |
|
文件保存选项 |
res (txt)、xls、pdf、csv |
|
功耗 |
250 W |
|
电源输入 |
110-220 V，50-60 Hz |
|
宽度 x 深度 x 高度 |
820 x 545 x 360 mm（32 2/5 x 25 2/5 x 14 1/5 ”） |
|
净重 |
55 千克（121 磅） |
苏州长显