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产品介绍
在开发光电器件（例如 LED 或太阳能电池）时，提高其辐射效率至关重要。这需要非常准确的技术来测定发光量子产率。LuQY Pro 是一款易于使用、非侵入式且功能多样的系统，具有很高的紧凑性，可在各种工作条件下快速量化薄膜吸收体、层堆栈或完整器件的 EL / PLQY 和 iVOC（QFLS）。
性能特点
- 快速量化半导体薄膜及器件的电致发光和光致发光 (EL & PL) abs.光子通量
- USB 即插即用：内置软件可记录发射光谱并直接计算 EL/PL 量子产率 (PLQY) 和准费米能级分裂 (QFLS)
- 小巧便携的布局使其可在手套箱等环境中灵活使用
技术参数
产地：德国
电流-电压源和测量单元 (SMU) 额定值max.：+/-10 V, +/-150 mA
样品尺寸max.（长 x 宽，高度不受限制）：30 x 30 mm
通过集成继电器盒可接触样品的子池数量max.：6 个子池
光激发强度（连续可调）：0.001 – 10 个“Suns”
光激发波长：532 nm
光激发光斑尺寸（可互换）：0.1 cm² / 1 cm²
光谱检测范围：550 – 1050 nm
量子产率灵敏度范围：10-4 – 100%
对应值（min）可解析QFLS，适用于1.6 eV吸收体带隙：1.0 V
光谱仪积分时间：1 ms – 65 s
尺寸（长 x 宽 x 高）：220 x 275 x 120 mm³
重量：4.7 kg
接口：1x DC，1x USB 3.0
产品应用
质量评估：用于每个制造步骤后的快速工艺控制或加速材料和工艺参数筛选的质量评估。
瞬态效应：快速采集可解析发射光谱和强度以及EL/PLQY和QFLS在10毫秒到数小时时间尺度上的偏移。
解析体层和界面复合：量化半导体薄膜、层堆栈或完整器件（例如太阳能电池或LED）中的体层和界面复合损耗。
效率潜力和损耗机制：深入分析半导体薄膜、层堆栈或完整器件中的效率潜力和损耗机制，例如通过根据强度和/或偏置电压相关的EL/PLQY和iVoc确定理想因子和伪JV曲线。
苏州长显