产品中心
产品介绍
X-RES 是那些需要高分辨率性能的光谱仪的理想之选，它能够解析准确度达 0.05 nm (FWHM) 的紧密排列光谱特征。X-RES 安装在坚固紧凑的光学台上，焦距为 100 mm，能够在工作波长范围内提供高的性能和灵敏度以及较大的峰值对称性，这使得该系列光谱仪成为高分辨率应用的解决方案。
用户可更换狭缝和光学滤光片、电源状态指示器和触发功能等功能可将此光谱仪集成到您的设置中。X-RES 提供即用型（适用于更常见的应用）和用户自定义（适用于更具体的应用）配置，适用于窄 UV-Vis 和 Vis-NIR 范围以及扩展的 UV-Vis-NIR 范围。
性能特点
- 非常适合高分辨率应用
- 用户可更换狭缝和光学滤光片
- 光学分辨率低至 05 nm (FWHM)
- 改进的光学设计 - 焦距为 100 mm
- 附带 LightScan 软件
选型指南
技术参数
产地：葡萄牙
操作范围：185-1100 nm（分为 8 个操作范围）
聚光透镜：可选（包括在灵敏度提高的版本中）
光纤连接器：SMA 905
触发器：输入/输出
狭缝尺寸：10 μm（可更换）
探测器：3648 元件Toshiba
集成时间：3ms-214s
软件：LightScan（包含）
光栅：根据所选范围
光学分辨率：0.05 至 0.1 nm
接口：Mini-USB
产品应用
X-RES 是一款具有高分辨率性能的光谱仪，能够满足您的高分辨率应用的所有要求。
用户可更换的狭缝和光学滤光片功能允许您设置 X-RES 以进行更灵敏的测量。这种灵活性与改进的灵敏度相结合，使该系统成为那些高分辨率应用的解决方案，例如激光器和 LED 的波长特性、监测校准源的光谱发射线或确定元素原子发射线。
苏州长显